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納米粒子測(cè)量?jī)xU-SMPS2050/2100/2200

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高分辨率: 最多128個(gè)大小類/衰減
粒徑分布: 8 nm到1.2 μm
直觀操作: 使用7英寸觸摸屏和GUI
單價(jià): 面議
所在地: 天津
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2024-12-13 17:10
瀏覽次數(shù): 548
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店鋪基本資料信息
 
產(chǎn)品詳細(xì)說明
 通用掃描遷移率粒度儀,適合各種應(yīng)用(8–1200nm)
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    粒徑分布從8 nm到1.2 µm 
    連續(xù)和快速掃描的測(cè)量原理 
    高分辨率,***多128個(gè)大小類/衰減 
    適用于高達(dá)108顆粒數(shù)/立方厘米的濃度 
    可以連接其他制造商的DMA和納米粒子計(jì)數(shù)器 
    圖形顯示測(cè)量值 
    直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI 
    集成數(shù)據(jù)記錄儀 
    支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問 
    低維護(hù) 
    功能可靠 
    減少您的運(yùn)營(yíng)費(fèi)用 *請(qǐng)聯(lián)系Palas®了解更多信息。
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圖1:U-SMPS 2050/2100/2200

Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩個(gè)版本。長(zhǎng)分類柱(2050/2100型)能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器[在ISO 15900中定義為差分電遷移率分類器(DMA),也稱為差分遷移率分析器(DEMC)],根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇并傳遞給出口。

然后通過冷凝顆粒計(jì)數(shù)器(例如Palas®UF-CPC)對(duì)這些顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。三種可用的UF-CPC模型可實(shí)現(xiàn)各種濃度范圍內(nèi)的***佳單顆粒計(jì)數(shù)。 Wiedensohler教授(德國(guó)IfT萊比錫)開發(fā)了Palas®的算法,用于對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行反演以產(chǎn)生U-SMPS粒度分布。

U-SMPS使用觸摸屏上的圖形用戶界面進(jìn)行操作。單個(gè)粒子分布掃描可以在短短30秒內(nèi)執(zhí)行,或者,每十個(gè)通道***多執(zhí)行64個(gè)尺寸通道,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上以線性和對(duì)數(shù)顯示測(cè)量值。隨附的評(píng)估軟件提供各種數(shù)據(jù)評(píng)估(廣泛的統(tǒng)計(jì)和平均)以及導(dǎo)出功能。

U-SMPS通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)連接到計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS支持其他制造商的各類DMA、CPC和氣溶膠靜電計(jì)。

U-SMPS的準(zhǔn)確尺寸測(cè)定和可靠性能十分重要,對(duì)于校準(zhǔn)來說尤其如此。所有組件都通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測(cè)試,并在內(nèi)部組裝。

圖2展示U-SMPS的工作原理:

氣溶膠在進(jìn)入分類器(DEMC列)之前經(jīng)過調(diào)節(jié)?蛇x的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測(cè)定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類機(jī)尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。

圖2:通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理

然后,氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是,在此處應(yīng)避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有極高的質(zhì)量。

鞘空氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠的體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比定義傳遞函數(shù),從而定義尺寸分類器的分辨率。

通過施加電壓在內(nèi)和外電極之間產(chǎn)生徑向?qū)ΨQ的電場(chǎng)。內(nèi)電極在末端具有小縫隙,帶正電。通過平衡每個(gè)粒子上的電場(chǎng)力及其在電場(chǎng)中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力,帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會(huì)穿過狹縫并離開DEMC。

在工作中,電壓和電場(chǎng)連續(xù)變化。結(jié)果,遷移率變化的粒子離開DEMC,并由納米粒子計(jì)數(shù)器(例如縮合粒子計(jì)數(shù)器)(例如Palas®UF-CPC)連續(xù)進(jìn)行測(cè)量。

在實(shí)際條件下,經(jīng)過測(cè)試的軟件為組合數(shù)據(jù)(電壓、粒子數(shù)等)并獲得粒度分布提供特殊的處理功能,如圖3所示。

圖3:Palas®DNP 3000顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠的粒徑分布

用戶界面和軟件

基于持續(xù)的客戶反饋,我們已設(shè)計(jì)良好的用戶界面和軟件,以實(shí)現(xiàn)直觀的操作、實(shí)時(shí)控制,并可以顯示測(cè)量數(shù)據(jù)和參數(shù)。

此外,軟件還通過集成的數(shù)據(jù)記錄器、完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持為數(shù)據(jù)管理提供支持。可以使用許多可用的顯示選項(xiàng)和測(cè)量數(shù)據(jù)評(píng)估功能。