“通電、觀察電流、輸出數(shù)據(jù)、各項(xiàng)性能指標(biāo)測試……一切正常!”日前,在中國航天科工三院33所八室ASIC試驗(yàn)室誕生了第一顆33所自主設(shè)計(jì)的ASIC芯片F(xiàn)DC3301。FDC3301的成功研制,標(biāo)志著33所電子技術(shù)領(lǐng)域從板級拓展到了芯片級,人才隊(duì)伍正由芯片的使用者向芯片的設(shè)計(jì)者轉(zhuǎn)變。
由于采用FPGA的傳統(tǒng)測頻方法無法滿足大動態(tài)情況下對振梁加速度計(jì)輸出頻率信號高速采樣的要求,加之對國外芯片依賴較大,為改變現(xiàn)狀,33所積極創(chuàng)新,自主開展了ASIC芯片的設(shè)計(jì)。該芯片主要用于完成振梁加速度計(jì)頻率信號的同步連續(xù)測量,可直接輸出被測信號浮點(diǎn)值頻率。其各項(xiàng)性能指標(biāo)均達(dá)到或超過了芯片規(guī)格書的要求,不僅實(shí)現(xiàn)了原有電路的芯片化集成,更重要的是其性能指標(biāo)得到了顯著的改善,量化噪聲降低了一個數(shù)量級,顯著提高了系統(tǒng)的動態(tài)特性。
ASIC芯片可應(yīng)于航空航天傳感器頻率測量,工業(yè)領(lǐng)域測試和測量系統(tǒng)等。芯片的研制成功,為33所在電子電路專業(yè)拓展新的發(fā)展空間奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。(文/陳昭)