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電子元器件的靜電損害知多少

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-20     來源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):117
核心提示:

靜電放電主要通過放電輻射、靜電感應(yīng)、電磁感應(yīng)和傳導(dǎo)耦合等途徑危害電子設(shè)備。靜電放電屬于脈沖式干擾,它對電子電路的干擾一般取決于脈沖幅度、寬度及脈沖的能量。一些靜電放電時(shí)帶電電壓或能量雖然不大,但由于在極短時(shí)間內(nèi)起作用,其瞬間能量密度也會對期間和電路產(chǎn)生干擾和危害。

靜電會損害電子元器件

現(xiàn)代電子行業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)過程中,大規(guī)模集成電路的應(yīng)用愈加廣泛。大規(guī)模集成電路具體積小、速度快的特點(diǎn),正是由于其內(nèi)部線路之間的間距短、面積小,但這必然以犧牲其耐壓、耐流參數(shù)為昂貴代價(jià)。CMOS電路是集成電路中最常見的電路類型,其對靜電極為敏感。特別是在越來越低的工作電壓所設(shè)計(jì)的電路中,由于器件柵極氧化膜極薄,因而耐壓界限很低,微小的電荷就能導(dǎo)致器件損壞。靜電放電可是器件內(nèi)部極間電容立即被充到高電壓,使得氧化物遭到破壞,以致造成短路、開路、擊穿和金屬化層的熔融現(xiàn)象。

在電子元器件靜電損害中,靜電放電的損害往往只有10%造成電子元器件當(dāng)時(shí)完全失效,通常表現(xiàn)為短路、開路以及參數(shù)的嚴(yán)重變化,超出其額定范圍,器件完全喪失了其特定功能;而另外90%會潛伏下來,造成累積效應(yīng),一般情況下,一次ESD(靜電釋放)后不足以引起器件立即完全失效,但元器件內(nèi)部會存在某種程度的輕微損傷,通常表現(xiàn)為參數(shù)有小的偏差或漂移,潛在失效并不明顯,因?yàn)闃O易被人們忽視,若這種元器件繼續(xù)帶傷工作,隨著ESD次數(shù)的增加,積累效應(yīng)越來越明顯,其損傷程度會逐漸加劇,最終必將導(dǎo)致失效。


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