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ABB推出用于質(zhì)量控制系統(tǒng)的光學(xué)厚度傳感器

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-20     來(lái)源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):115
核心提示:

  2009年5月14日,ABB在愛(ài)爾蘭的Dundalk推出了極富創(chuàng)新性的光學(xué)厚度傳感器。ABB在光學(xué)技術(shù)革命的基礎(chǔ)上研發(fā)了這種十分精準(zhǔn)和穩(wěn)定的在線檢測(cè)傳感器。

  精確的厚度測(cè)量和控制對(duì)于紙張的質(zhì)量和滿足客戶需要是至關(guān)重要的,傳統(tǒng)上這是通過(guò)兩面接觸厚度傳感器實(shí)現(xiàn)的,但某些特殊的紙張生產(chǎn)對(duì)傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量技術(shù)提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。為此,紙張的生產(chǎn)者一直尋求一種新的厚度測(cè)量方式以克服接觸式厚度測(cè)量的不足之處。

  ABB新推出的光學(xué)厚度傳感器是非接觸式在線測(cè)量傳感器,不使用激光所用的三角測(cè)量法,避免了激光穿透紙張表面引起的測(cè)量誤差。新的傳感器,采用了不同的方法,極大的改善了測(cè)量精度和穩(wěn)定性。此傳感器的應(yīng)用有著卓越的表現(xiàn),可以滿足傳統(tǒng)的厚度傳感器不能滿足的要求。光學(xué)厚度傳感器基于共焦移位測(cè)量技術(shù)。近來(lái)這種技術(shù)促進(jìn)了顯微方法,薄膜研究和半導(dǎo)體制造業(yè)的新發(fā)展。

  這種新的傳感器,是ABB領(lǐng)導(dǎo)在線紙張質(zhì)量測(cè)量50年來(lái)的最新產(chǎn)品,最終提供給紙張生產(chǎn)者的是精確的測(cè)量和控制厚度的工具,即使要求相當(dāng)苛刻的紙種也是如此。

 

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