X熒光光譜儀的分析原理及構造

網訊：X射線熒光（XRF）能用于測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和X射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析，而要分析的樣品必須經受在真空（4~5Pa）環(huán)境下測定，與其他分析技術相比，XRF具有分析速度快，穩(wěn)定性和精密度好以及動態(tài)范圍寬等優(yōu)點。

工作原理

或閃爍計數(shù)器檢測，其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器，及輔助裝置如初級濾光片等。

校準。而我公司ARL9800XP熒光光譜儀裝有一個測角儀（掃描道）和一個衍射道，如果需要還可以再裝14個固定道，它配有12位樣品交換器，可以設定自動進樣。

　　X射線熒光光譜儀的基本原理

　　被測試樣進入光譜儀后，受到來自X光管發(fā)出的X射線光束激發(fā)，產生X熒光，X射線熒光是指用X射線管或其它合適的輻射源照射物質時，使組成物質的原子產生具有特征性的一種次級X射線，X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素（Rh銠）的特征譜和連續(xù)譜（或稱白色輻射）所組成，來自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光，這種混合光被引入測角儀所組成的色散系統(tǒng)分光，分光后所得的譜線和被測樣品中存在的元素有關。