開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試項(xiàng)目

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-21     來(lái)源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):103
核心提示:

  良好的開(kāi)關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范(如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO,長(zhǎng)城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格)、電磁兼容能力(如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾)、可靠性(如老化壽命測(cè)試)、及其他特定需求等。

  開(kāi)關(guān)電源包括下列之型式:

  ·AC-DC:如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、傳真機(jī)、充電器)

  ·DC-DC:如可攜帶式產(chǎn)品(移動(dòng)電話、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī),通信交換機(jī)二次電源)

  ·DC-AC:如車用轉(zhuǎn)換器(12V~115/230V) 、通信交換機(jī)振鈴信號(hào)電源

  ·AC-AC:如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

  開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測(cè)試需要精密的電子儀器設(shè)備來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)之各項(xiàng)特性(亦即為各項(xiàng)規(guī)格),并驗(yàn)證能否通過(guò)。開(kāi)關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)(單輸出、多輸出、及正負(fù)極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合,因此需要具彈性多樣化的測(cè)試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

  電氣性能(Electrical Specifications)測(cè)試

  當(dāng)驗(yàn)證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時(shí),下列為一般的功能性測(cè)試項(xiàng)目,詳細(xì)說(shuō)明如下:

  *功能(Functions)測(cè)試:

  ·輸出電壓調(diào)整(Hold-on Voltage Adjust)

  ·電源調(diào)整率(Line Regulation)

  ·負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation)

  ·綜合調(diào)整率(Combine Regulation)

  ·輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)

  ·輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)

  ·動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response)

  ·電源良好/失效(Power Good/Fail)時(shí)間

  ·起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間

  *保護(hù)動(dòng)作(Protections)測(cè)試:

  ·過(guò)電壓保護(hù)(OVP, Over Voltage Protection)

  ·短路保護(hù)(Short)

  ·過(guò)電流保護(hù)(OCP, Over Current Protection)

  ·過(guò)功率保護(hù)(OPP, Over Power Protection)

  *安全(Safety)規(guī)格測(cè)試:

  ·輸入電流、漏電電流等

  ·耐壓絕緣: 電源輸入對(duì)地,電源輸出對(duì)地;電路板線路須有安全間距。

  ·溫度抗燃:零組件需具備抗燃之安全規(guī)格,工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。

  ·機(jī)殼接地:需於0.1歐姆以下,以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。

  ·變壓輸出特性:開(kāi)路、短路及最大伏安(VA)輸出

  ·異常測(cè)試:散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開(kāi)關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤

  *電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測(cè)試:

  電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度,電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測(cè)試:

  每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。

  ·傳導(dǎo)干擾/免疫:經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

  ·幅射干擾/免疫:經(jīng)由磁場(chǎng)之幅射性干擾/免疫

  *可靠性(Reliability)測(cè)試:

  老化壽命測(cè)試:高溫(約50-60度)及長(zhǎng)時(shí)間(約8-24小時(shí))滿載測(cè)試。

  *其他測(cè)試:

  ·ESD:Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下,

待測(cè)物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測(cè)試,電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波(Glitch)

  或中斷(Interrupt),直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過(guò)激(Overshoot

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