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CAMECA推出最新次級離子質(zhì)譜分析儀IMS 7f-Auto

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-10     來源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):60
核心提示:
和計量解決方案全球領(lǐng)導(dǎo)者CAMECA公司于當(dāng)日宣布推出最新次級離子質(zhì)譜分析儀器(SIMS)IMS 7f-Auto。據(jù)悉,IMS 7f-Auto應(yīng)用于先進(jìn)材料研究領(lǐng)域,主要用做同位元素分析。CAMECA副總裁兼市場部經(jīng)理表示,IMS 7f-Auto繼承并發(fā)展了IMS 7f系列的成熟技術(shù),亮點在于新設(shè)計的主列、機(jī)動儲存室以及更新的自動化程序。IMS7f-Auto集高敏感性、目前市場最高動態(tài)范圍、光痕最大檢測極限以及高吞吐量分析于一體,具有其他同類產(chǎn)品無法比擬的產(chǎn)品硬實力。

  此外,CAMECA優(yōu)化了IMS7f-Auto的性能以使其更好適用于諸如玻璃、金屬、陶瓷、硅基長波長光電設(shè)備、III-V及II-VI設(shè)備等更多的挑戰(zhàn)性應(yīng)用,使之成為在散裝材料和薄膜技術(shù)領(lǐng)域極具專業(yè)的產(chǎn)品,從而滿足行業(yè)對開發(fā)和過程控制均高效設(shè)備的需求。

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