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基恩士發(fā)布形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系列

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-10     來(lái)源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):146
核心提示:
顯微系統(tǒng)VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺(tái)機(jī)器便可以實(shí)現(xiàn)無(wú)與倫比的高分辨率大范圍形狀測(cè)量。

  高分辨率,大景深觀察

  (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍

 。2) 完全聚焦的清晰圖像

  (3) 符合溯源性要求

  仿佛彩色 SEM

 。1) 16 bit 激光彩色觀察

  (2) 放置并且測(cè)量,您可以在幾秒鐘內(nèi)進(jìn)行分析

 。3) 可拆卸測(cè)量頭單元允許各種尺寸的樣品測(cè)量?刹鹦稖y(cè)量頭單元可以與其他設(shè)備整合并支持遠(yuǎn)程操作。

  無(wú)損輪廓和粗糙度測(cè)量

 。1) 非接觸式設(shè)計(jì),可用于測(cè)量軟質(zhì)的工件

  (2) 方便定位測(cè)量區(qū)域

 。3) 激光光束波長(zhǎng)比表面粗糙度測(cè)量直徑小

激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系類

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