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普林斯頓宣布推出新一代VersaSCAN微區(qū)電化學(xué)掃描系統(tǒng)

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-10     來(lái)源:[標(biāo)簽:出處]     作者:[標(biāo)簽:作者]     瀏覽次數(shù):160
核心提示:

  Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試

  Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET, SVP) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試

  Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試

  Scanning Droplet System (SDS) 掃描電解液微滴測(cè)試

  Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式微區(qū)形貌測(cè)試

  2. 高精度的樣品定位平臺(tái),分辨率達(dá)50nm;樣品測(cè)試區(qū)域可達(dá)100mm.

  3. 建立在普林斯頓50年電化學(xué)工作站研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)上的集成產(chǎn)品,提供更卓越的電流及電位測(cè)試信噪比以及阻抗測(cè)試能力。

  4. 多功能軟件可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)微區(qū)測(cè)試的功能,操作簡(jiǎn)便,數(shù)據(jù)處理及展現(xiàn)功能強(qiáng)大。

  5. 專業(yè)的產(chǎn)品應(yīng)用與技術(shù)服務(wù)隊(duì)伍,提供全方位的售后支持。

VersaSCAN 微區(qū)電化學(xué)掃描系統(tǒng)

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